目前，我国手机废弃量逐年增多，其电路板上集聚了多种稀贵金属，其中以金、钯为Zui。随着我国出台的废弃电器电子制品处理目录(2014版)，将手机纳入到处理名录中。废旧手机规模回收处理是必然趋势。据相关部门估计，2015年，我国手机废弃量将超过2亿部，其中，金属含量约占废旧手机的36％左右，而废旧电路板上所包含的大量稀贵金属(金、钯等)是多数企业追求的经济目标。

我国目前手机回收以多渠道回收为主，并未区分型号及大小，无法详细计算批量回收的废旧手机电路板中的金属含量，同时，进行手机稀贵金属提取时应依据特定金属含量来添加提取原料，若回收贵金属前进行稀贵金属含量测定，在添加原料时可避免原料的浪费。因此，预测定批量废旧手机电路板样品中的金属含量显得极为重要。不同手机型号不同，且废旧手机稀贵金属多附着在接插件以及电接触要求较高的触点或触片上，故集中处理元器件，即可大幅降低样品中的非金属对金属回收的干扰，提高金属提取效率，同时，由于所需处理样品含量大幅度降低，可节省大量原材料和能耗，是较为节约便利的测定途径。

当前，对于废旧电路板中金属含量测定无明确的方法，本专利提出一种专门针对废旧手机电路板的消解方法，可用于不同型号的混合手机电路板样品测定，对于废旧电路板尤其是稀贵金属含量较高的元器件中金属含量测定具有普适性。